американский физик
Джерри Терсофф — научный сотрудник исследовательского центра IBM Thomas J. Watson . Его работа охватывает различные темы в области теоретического понимания поверхностей, интерфейсов, электронных материалов, эпитаксиального роста и наноразмерных устройств. На протяжении всей своей карьеры он подчеркивал использование простых моделей для понимания сложного поведения. [1]
Награды и почести
- Премия памяти Питера Марка 1988 года «За новаторские подходы к теоретическому пониманию электронной структуры, свойств и измерений поверхностей и интерфейсов».
- 1996 Медаль MRS «За основополагающий вклад в теорию релаксации напряжений в тонких пленках».
- Премия Дэвиссона-Гермера 1997 года по атомной или поверхностной физике «За проницательные, творческие теоретические описания феноменологии поверхности; в частности, динамики роста кристаллов, поверхностных структур и их исследований».
- Премия Медарда У. Уэлча 2007 года «За основополагающий теоретический вклад в понимание поверхностей, интерфейсов, тонких пленок и наноструктур электронных материалов».
- 2018 Национальная инженерная академия «За теоретический вклад в инженерную науку о росте и моделировании материалов, наноразмерных электронных устройствах и полупроводниковых интерфейсах».
- Премия имени фон Хиппеля Общества исследователей материалов 2019 года «За углубление понимания низкоразмерных и наномасштабных электронных материалов, поверхностей и интерфейсов с помощью элегантных теоретических моделей, которые подчеркивают основные физические процессы, контролирующие рост, структуру и электронные свойства».
Смотрите также
Ссылки
