Сканировать цепь

Сканирование цепи — это метод, используемый в разработке для тестирования . Цель состоит в том, чтобы сделать тестирование проще, предоставив простой способ установки и наблюдения за каждым триггером в ИС . Базовая структура сканирования включает следующий набор сигналов для управления и наблюдения за механизмом сканирования.

1. Scan_in и scan_out определяют вход и выход цепи сканирования. В режиме полного сканирования обычно каждый вход управляет только одной цепью, а scan out также наблюдает за одной.
2. Вывод разрешения сканирования — это специальный сигнал, который добавляется к конструкции. Когда этот сигнал активируется, каждый триггер в конструкции подключается к длинному сдвиговому регистру .
3. Тактовый сигнал , который используется для управления всеми триггерами в цепочке во время фазы сдвига и фазы захвата. В цепочку триггеров можно ввести произвольный шаблон, и можно считать состояние каждого триггера.

В дизайне полного сканирования автоматическая генерация тестовых шаблонов (ATPG) особенно проста. Не требуется последовательной генерации шаблонов — достаточно комбинаторных тестов, которые гораздо проще генерировать. Если у вас есть комбинаторный тест, его можно легко применить.

• Включите режим сканирования и настройте нужные входы.
• Отменить режим сканирования и применить один такт. Теперь результаты теста фиксируются в целевых триггерах.
• Повторно включите режим сканирования и проверьте, пройден ли комбинаторный тест.

В чипе, который не имеет полного дизайна сканирования, т. е. чип имеет последовательные схемы, такие как элементы памяти, которые не являются частью цепи сканирования, требуется последовательная генерация шаблона . Генерация тестового шаблона для последовательных схем ищет последовательность векторов для обнаружения конкретной неисправности через пространство всех возможных векторных последовательностей.

Даже простая константная неисправность требует последовательности векторов для обнаружения в последовательной схеме. Кроме того, из-за наличия элементов памяти, управляемость и наблюдаемость внутренних сигналов в последовательной схеме в целом намного сложнее, чем в комбинационной логической схеме. Эти факторы делают сложность последовательной ATPG намного выше, чем у комбинационной ATPG.

Существует множество вариантов:

• Частичное сканирование : только некоторые триггеры соединены в цепи.
• Несколько цепочек сканирования : две или более цепочек сканирования строятся параллельно, чтобы сократить время загрузки и наблюдения.
• Тестовое сжатие : входные данные для цепи сканирования предоставляются встроенной логикой.

Смотрите также

• Дизайн для тестирования
• Автоматическая генерация тестовых шаблонов
• Автоматизация электронного проектирования
• Проектирование интегральных схем
• Последовательная периферийная интерфейсная шина
• Тестирование IDDQ

Внешние ссылки

• Пример цепочки сканирования для выявления постоянных неисправностей