Перечень методов анализа материалов

Это список методов анализа, используемых в материаловедении . Методы анализа перечислены по их аббревиатуре, если таковая имеется.

Символы

• μSR – см. мюонная спиновая спектроскопия
• χ – см. магнитная восприимчивость

А

• ААС – атомно-абсорбционная спектроскопия
• AED – Оже-электронная дифракция
• AES – Оже-электронная спектроскопия
• АСМ – атомно-силовая микроскопия
• АФС – Атомно-флуоресцентная спектроскопия
• Аналитическое ультрацентрифугирование
• APFIM – Атомно-зондовая полевая ионная микроскопия
• APS – спектроскопия потенциального появления
• ARPES – фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением
• ARUPS – Угловая фотоэмиссионная спектроскопия ультрафиолетового диапазона
• ATR – ослабленное полное внутреннее отражение

Б

• БЭТ – измерение площади поверхности по методу БЭТ (БЭТ от Брунауэра, Эммета, Теллера)
• BiFC – Бимолекулярная флуоресцентная комплементация
• BKD – Дифракция Кикучи с обратным рассеянием, см . EBSD
• BRET – Биолюминесцентный резонансный перенос энергии
• BSED – Дифракция обратно рассеянных электронов, см . EBSD

С

• CAICISS – Коаксиальная ударно-столкновительная спектроскопия рассеяния ионов
• CARS – Когерентная антистоксовая рамановская спектроскопия
• CBED – Дифракция электронов сходящимся пучком
• CCM – Микроскопия сбора заряда
• CDI – когерентная дифракционная визуализация
• КЭ – Капиллярный электрофорез
• КЭТ – Криоэлектронная томография
• КЛ – Катодолюминесценция
• CLSM – Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия
• COSY – Корреляционная спектроскопия
• Крио-ЭМ – Криоэлектронная микроскопия
• Крио-СЭМ – Криосканирующая электронная микроскопия
• CV – Циклическая вольтамперометрия

Д

• DE(T)A – Диэлектрический термический анализ
• dHvA – эффект Де Хааса – Ван Альфена
• ДИК – Дифференциальная интерференционная контрастная микроскопия
• Диэлектрическая спектроскопия
• DLS – Динамическое рассеяние света
• DLTS – Глубокая переходная спектроскопия
• ДМА – Динамический механический анализ
• DPI – Двойная поляризационная интерферометрия
• DRS – Спектроскопия диффузного отражения
• ДСК – Дифференциальная сканирующая калориметрия
• ДТА – Дифференциальный термический анализ
• DVS – Динамическая сорбция паров

Э

• EBIC – ток, индуцированный электронным пучком (см. IBIC: заряд, индуцированный ионным пучком)
• EBS – Спектрометрия обратного упругого (нерезерфордовского) рассеяния (см. RBS )
• EBSD – Дифракция обратного рассеяния электронов
• ECOSY – Эксклюзивная корреляционная спектроскопия
• ЭСТ – Электроемкостная томография
• EDAX – Энергодисперсионный анализ рентгеновского излучения
• ЭДМР – электрически обнаруженный магнитный резонанс , см. ЭПР или ЭПР
• EDS или EDX – Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия
• EELS – спектроскопия потери энергии электронами
• EFTEM – просвечивающая электронная микроскопия с энергетической фильтрацией
• EID – Электронно-индуцированная десорбция
• ЭИТ и ЭРТ – Электроимпедансная томография и электрорезистивная томография
• ЭЛ – Электролюминесценция
• Электронная кристаллография
• ELS – Электрофоретическое рассеяние света
• ENDOR – двойной электронно-ядерный резонанс , см. ЭПР или ЭПР
• ЭПМА – электронно-зондовый микроанализ
• ЭПР – спектроскопия электронного парамагнитного резонанса
• ERD или ERDA – обнаружение упругой отдачи или анализ обнаружения упругой отдачи
• ESCA – Электронная спектроскопия для химического анализа см. XPS
• ESD – Электронно-стимулированная десорбция
• ESEM – Экологическая сканирующая электронная микроскопия
• ESI-MS или ES-MS – масс-спектрометрия с ионизацией электрораспылением или масс-спектрометрия с электрораспылением
• ЭПР – спектроскопия электронного спинового резонанса
• ESTM – Электрохимическая сканирующая туннельная микроскопия
• EXAFS – Расширенная тонкая структура поглощения рентгеновских лучей
• EXSY – Обменная спектроскопия

Ф

• FCS – Флуоресцентная корреляционная спектроскопия
• FCCS – Флуоресцентная кросс-корреляционная спектроскопия
• FEM – Полевая эмиссионная микроскопия
• ФИБ – Микроскопия с фокусированным ионным пучком
• FIM-AP – Полевая ионная микроскопия – атомный зонд
• Двойное лучепреломление потока
• Анизотропия флуоресценции
• FLIM – визуализация времени жизни флуоресценции
• Флуоресцентная микроскопия
• FOSPM – сканирующая зондовая микроскопия с ориентацией на признаки
• FRET – флуоресцентный резонансный перенос энергии
• FRS – Forward Recoil Spectrometry, синоним ERD
• FTICR или FT-MS – Фурье-преобразование ионного циклотронного резонанса или Фурье-преобразование масс-спектрометрии
• FTIR – инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье

Г

• ГХ-МС – Газовая хроматография-масс-спектрометрия
• GDMS – масс-спектрометрия тлеющего разряда
• GDOS – Оптическая спектроскопия тлеющего разряда
• GISAXS – малоугловое рентгеновское рассеяние скользящего падения
• GIXD – рентгеновская дифракция скользящего падения
• GIXR – Отражательная способность рентгеновских лучей при скользящем падении
• ГЖХ – Газожидкостная хроматография
• ГПХ – гель-проникающая хроматография

ЧАС

• HAADF – кольцевая темнопольная визуализация под большим углом
• HAS – Рассеяние атомов гелия
• ВЭЖХ – Высокоэффективная жидкостная хроматография
• HREELS – Спектроскопия потери энергии электронов высокого разрешения
• HREM – Электронная микроскопия высокого разрешения
• HRTEM – просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения
• HI-ERDA – Анализ обнаружения упругой отдачи тяжелых ионов
• HE-PIXE – рентгеновское излучение, вызванное высокоэнергетическими протонами

я

• IAES – Ионно-индуцированная оже-электронная спектроскопия
• IBA – Ионно-лучевой анализ
• IBIC – Микроскопия индуцированного ионным пучком заряда
• ICP-AES – атомно-эмиссионная спектроскопия с индуктивно связанной плазмой
• ICP-MS – масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой
• Иммунофлюоресценция
• ИЦР – Ионный циклотронный резонанс
• IETS – Неупругая электронная туннельная спектроскопия
• IGA – Интеллектуальный гравиметрический анализ
• IGF – Инертный газовый синтез
• IIX – Анализ рентгеновских лучей, индуцированных ионами, см. рентгеновское излучение, индуцированное частицами
• INS – Спектроскопия нейтрализации ионов
• Неупругое рассеяние нейтронов
• IRNDT – Инфракрасный неразрушающий контроль материалов
• ИКС – Инфракрасная спектроскопия
• МКС – Спектроскопия ионного рассеяния
• ИТК – Изотермическая титрационная калориметрия
• IVEM – Электронная микроскопия среднего напряжения

Л

• LALLS – малоугловое рассеяние лазерного света
• ЖХ-МС – Жидкостная хроматография-масс-спектрометрия
• LEED – Дифракция низкоэнергетических электронов
• LEEM – низкоэнергетическая электронная микроскопия
• LEIS – Рассеяние низкоэнергетических ионов
• LIBS – лазерно-индуцированная спектроскопия пробоя
• LOES – лазерная оптическая эмиссионная спектроскопия
• LS – Рассеяние света (рамановское)

М

• MALDI – Матричная лазерная десорбция/ионизация
• МЛЭ – Молекулярно-лучевая эпитаксия
• MEIS – Рассеяние ионов средней энергии
• МСМ – Магнитно-силовая микроскопия
• Массачусетский технологический институт – Магнитно-индукционная томография
• MPM – Многофотонная флуоресцентная микроскопия
• МРСМ – Магнитно-резонансная силовая микроскопия
• МРТ – Магнитно-резонансная томография
• МС – Масс-спектрометрия
• МС/МС – Тандемная масс-спектрометрия
• MSGE – Механически стимулированное выделение газа
• Мёссбауэровская спектроскопия
• МТА – Микротермический анализ

Н

• NAA – Нейтронно-активационный анализ
• ND – Нейтронная дифракция
• NDP – Нейтронное глубинное профилирование
• NEXAFS – Тонкая структура поглощения рентгеновского излучения вблизи края спектра
• NIS – Ядерное неупругое рассеяние/поглощение
• ЯМР – спектроскопия ядерного магнитного резонанса
• NOESY – спектроскопия ядерного эффекта Оверхаузера
• NRA – Анализ ядерных реакций
• NSOM – Оптическая микроскопия ближнего поля

О

• OBIC – ток, индуцированный оптическим лучом
• ODNMR – Оптически обнаруженный магнитный резонанс, см. ЭПР или ЭПР
• ОЭС – Оптическая эмиссионная спектроскопия
• Осмометрия

П

• PAS – Позитронная аннигиляционная спектроскопия
• Фотоакустическая спектроскопия
• PAT или PACT – фотоакустическая томография или фотоакустическая компьютерная томография
• PAX – Фотоэмиссия адсорбированного ксенона
• ПК или ПКС – Фототоковая спектроскопия
• Фазово-контрастная микроскопия
• Кандидат наук – Фотоэлектронная дифракция
• PD – Фотодесорбция
• PDEIS – Потенциодинамическая электрохимическая импедансная спектроскопия
• PDS – Фототермическая дефлекционная спектроскопия
• ПЭД – Фотоэлектронная дифракция
• PEELS – параллельная спектроскопия потери энергии электронами
• ПЭЭМ – фотоэмиссионная электронная микроскопия (или фотоэлектронная эмиссионная микроскопия)
• ПЭС – Фотоэлектронная спектроскопия
• PINEM – фотонно-индуцированная ближнепольная электронная микроскопия
• PIGE – гамма-спектроскопия, индуцированная частицами (или протонами), см. анализ ядерных реакций
• PIXE – рентгеновская спектроскопия, индуцированная частицами (или протонами)
• ПЛ – Фотолюминесценция
• Порозиметрия
• Порошковая дифракция
• ПТМС – фототермическая микроспектроскопия
• PTS – Фототермическая спектроскопия

В

• QENS – Квазиупругое рассеяние нейтронов
• QCM-D – кварцевые микровесы с контролем рассеивания

Р

• Рамановская спектроскопия
• RAXRS – Резонансное аномальное рассеяние рентгеновских лучей
• RBS – спектрометрия обратного рассеяния Резерфорда
• РЭМ – Отражательная электронная микроскопия
• RDS – спектроскопия разности отражения
• RHEED – Дифракция отражательных электронов высокой энергии
• RIMS – резонансная ионизационная масс-спектрометрия
• RIXS – Резонансное неупругое рассеяние рентгеновских лучей
• Спектроскопия RR – Резонансная Рамановская спектроскопия

С

• SAD – Дифракция в выбранной области
• SAED – Электронная дифракция в выбранной области
• СЭМ – сканирующая оже-микроскопия
• SANS – Малоугловое рассеяние нейтронов
• SAXS – малоугловое рентгеновское рассеяние
• SCANIIR – Состав поверхности по анализу нейтральных частиц и ионно-ударного излучения
• SCEM – Сканирующая конфокальная электронная микроскопия
• SE – Спектроскопическая эллипсометрия
• SEC – Эксклюзионная хроматография
• SEIRA – Поверхностно-усиленная инфракрасная абсорбционная спектроскопия
• СЭМ – Сканирующая электронная микроскопия
• SERS – Поверхностно-усиленная Рамановская спектроскопия
• SERRS – Рамановская спектроскопия с поверхностным резонансом
• SESANS – спин-эхо малоугловое рассеяние нейтронов
• SEXAFS – Тонкая структура поверхностного поглощения рентгеновского излучения
• SICM – Сканирующая ионно-проводящая микроскопия
• SIL – Твердая иммерсионная линза
• SIM – Твердое иммерсионное зеркало
• SIMS – масс-спектрометрия вторичных ионов
• SNMS – масс-спектрометрия распыленных нейтральных частиц
• СБОМ – сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля
• SPECT – Однофотонная эмиссионная компьютерная томография
• СЗМ – сканирующая зондовая микроскопия
• SRM-CE/MS – капиллярно-электрофорезная масс-спектрометрия для мониторинга выбранных реакций
• SSNMR – твердотельный ядерный магнитный резонанс
• Спектроскопия Штарка
• STED – Микроскопия с истощением стимулированного излучения
• STEM – Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия
• СТМ – Сканирующая туннельная микроскопия
• СТС – Сканирующая туннельная спектроскопия
• SXRD – Поверхностная рентгеновская дифракция

Т

• TAT или TACT – Термоакустическая томография или термоакустическая компьютерная томография (см. также фотоакустическая томография – PAT)
• ТЭМ – просвечивающая электронная микроскопия
• ТГА – термогравиметрический анализ
• TIKA – Анализ кинетики пропускания ионов
• TIMS – масс-спектрометрия с термической ионизацией
• TIRFM – флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения
• TLS – фототермическая линзовая спектроскопия, тип фототермической спектроскопии
• ТМА – Термомеханический анализ
• TOF-MS – времяпролетная масс-спектрометрия
• Микроскопия с двухфотонным возбуждением
• TXRF – рентгенофлуоресцентный анализ полного отражения

У

• Спектроскопия затухания ультразвука
• УФ -фотоэлектронная спектроскопия
• USANS – Ультрамалые углы рассеяния нейтронов
• USAXS – Ультрамалоугловое рентгеновское рассеяние
• UT – Ультразвуковой контроль
• UV-Vis – ультрафиолетово-видимая спектроскопия

В

• VEDIC – Видеоусиленная дифференциально-интерференционная контрастная микроскопия
• Вольтамперометрия

Вт

• WAXS – Широкоугольное рентгеновское рассеяние
• WDX или WDS – волновая дисперсионная рентгеновская спектроскопия

Х

• XAES – рентгеновская оже-электронная спектроскопия
• XANES – XANES , синоним NEXAFS (тонкая структура поглощения рентгеновских лучей вблизи края спектра)
• XAS – рентгеновская абсорбционная спектроскопия
• X-CTR – рентгеновское рассеяние кристаллического усеченного стержня
• рентгеновская кристаллография
• XDS – диффузное рассеяние рентгеновских лучей
• XES – рентгеновская эмиссионная спектроскопия
• XPEEM – рентгеновская фотоэлектронная эмиссионная микроскопия
• XPS – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
• XRD – рентгеновская дифракция
• XRES – рентгеновское резонансное обменное рассеяние
• XRF – рентгенофлуоресцентный анализ
• XRR – рентгеновская отражательная способность
• XRS – рентгеновское комбинационное рассеяние
• XRT – рентгеновская передача
• XSW – метод стоячей рентгеновской волны

Смотрите также

• Характеристика (материаловедение)

Ссылки

• Каллистер, У. Д. (2000). Материаловедение и инженерия – Введение . Лондон: John Wiley and Sons. ISBN 0-471-32013-7.
• Яо, Н., ред. (2007). Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications . Кембридж, Великобритания: Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-83199-4.